開(kāi)關(guān)柜觸頭熒光光纖測(cè)溫溫度的監(jiān)測(cè)

目前,現(xiàn)代電力系統(tǒng)正向著“高電壓、大機(jī)組、大容量”的方向迅速發(fā)展,對(duì)作為電力系統(tǒng)重要設(shè)備的高壓開(kāi)關(guān)柜可靠性的要求也越來(lái)越高。影響高壓開(kāi)關(guān)柜安全可靠運(yùn)行的因素較多,而導(dǎo)電連接處的接觸不良是其中最重要的因素之一。
高壓開(kāi)關(guān)柜導(dǎo)電連接處的接觸不良主要是由于機(jī)械振動(dòng)、觸頭燒蝕而使接觸處的溫度增加,造成接觸處氧化,繼而使得接觸電阻增加,導(dǎo)致接觸處的溫度也增加,從而引發(fā)局部溶傳或產(chǎn)生火花甚至電弧放電,殃及周?chē)慕^緣材料,最終造成高壓開(kāi)關(guān)柜的損壞,造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。

首先，是開(kāi)關(guān)柜的封閉性。開(kāi)關(guān)柜空間密閉且各個(gè)隔室呈封閉狀態(tài)，一般的測(cè)量?jī)x器很難放入其中，即使能放進(jìn)去，也需要測(cè)量?jī)x器的探頭尺寸特別小巧。
其次，是開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部強(qiáng)烈的電磁干擾以及惡劣的運(yùn)行環(huán)境。柜內(nèi)設(shè)備長(zhǎng)期處于高電壓大電流的運(yùn)行狀態(tài)，這會(huì)導(dǎo)致其內(nèi)部具有強(qiáng)烈的電磁干擾，使得測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，從而影響測(cè)溫裝置的可靠性。
考慮到開(kāi)關(guān)柜研究的這些特殊性，福州華光天銳提出了利用熒光光纖測(cè)溫的方式實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)柜觸頭溫度的監(jiān)測(cè)。光纖傳輸?shù)氖枪庑盘?hào)，不受開(kāi)關(guān)柜內(nèi)電磁干擾的影響，將光纖探頭直接埋設(shè)在高壓開(kāi)關(guān)柜內(nèi)觸頭上，不僅避免了無(wú)線傳感器測(cè)溫供電不易的問(wèn)題，還具有熒光測(cè)溫抗電磁干擾、探頭尺寸小、可以伸到狹小空間、易于安裝、電絕緣等優(yōu)點(diǎn)。