晶閘管熒光光纖溫度實(shí)時(shí)測量系統(tǒng)

2020年12月8日 分類:技術(shù)解答

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華光天銳提供光纖測溫系統(tǒng),可以在多種電子元器件中使用,比如IGBT光纖測溫、可控硅晶閘管測溫、發(fā)電機(jī)組光纖測溫,絕緣,不受電磁干擾。

晶閘管測溫裝置的必要性

電力電子變換裝置在工作過程中,晶閘管通常工作于高壓、大電流的狀態(tài)中,工作過程中功率損耗會引起晶閘管的發(fā)熱、升溫,而晶閘管溫度過高將縮短器件壽命,甚至燒毀器件。為保證元件在額定負(fù)荷范圍內(nèi)和超負(fù)荷等異常情況下都能工作在允許的最高結(jié)溫以下,需對晶閘管的溫度進(jìn)行監(jiān)測,提升設(shè)備運(yùn)行的可靠性。

高壓晶閘管起動器在起動高壓交流電動機(jī)時(shí),晶閘管要承受高電壓和大電流,晶閘管由于消耗電能,電能轉(zhuǎn)化為熱能,晶閘管本身的溫度快速升高,并通過其自身的散熱器將其熱量散出。但高壓晶閘管起動器因負(fù)載原因起動時(shí)間過長或多次頻繁起動時(shí),散熱器上由于熱量的積蓄,會達(dá)到過高的溫度,此時(shí),晶閘管溫度也會過高,若不及時(shí)采取措施處理或控制過高的溫度,將會使晶閘管本身因過溫而損壞。

晶閘管自 1956 年誕生以來,一直朝著高電壓、大電流的方向發(fā)展,分為電觸發(fā)晶閘管 (Electrically Triggered Thyristor,ETT)、光觸發(fā)晶閘管 (Light-Triggered Thyristor LTT),被廣泛的用于 HVDC、SVC、TCSC、TSC 等領(lǐng)域。晶閘管換流閥是系統(tǒng)運(yùn)行的核心部件,在開通過程中,若經(jīng)受故障 ( 浪涌 ) 電流,電流上升率很大,而單晶硅擴(kuò)展速度的增大并不明顯,且不均勻,因此,會在導(dǎo)通局部形成很高的電流密度和造成局部結(jié)溫急劇上升,最終導(dǎo)致晶閘管燒毀 ;在導(dǎo)通過程中,可存在高電流密度溫升效應(yīng)和缺陷點(diǎn)本征激發(fā)效應(yīng),形成單晶硅自身的循環(huán)加熱,最終晶閘管燒毀 ;在關(guān)斷過程中,由于存在恢復(fù)電流和較高的電流關(guān)斷 di/dt,結(jié)溫都遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于正常值,易燒毀晶閘管 ;在斷態(tài)過程中,晶閘管存在泄漏電流和 RC 保護(hù)回路的過電壓,亦同樣產(chǎn)生局部熱電的循環(huán)自加熱,將晶閘管燒毀。因此,晶閘管結(jié)溫隨外界工況變化,對換流閥串聯(lián)均壓機(jī)制、內(nèi)外部過電壓、過電流、晶閘管反向恢復(fù)過程、觸發(fā)控制系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)等各方面特性都起著決定性作用。因此,迫切需要能夠測量晶閘管內(nèi)實(shí)時(shí)溫度的測量系統(tǒng),熒光光纖測量系統(tǒng)采用特制的光纖溫度傳感器,能夠?qū)崟r(shí)多點(diǎn)測量溫度分布,對晶閘管本體影響極小,不受外界的強(qiáng)電磁干擾,具有體積超小、可靠性高、穩(wěn)定性強(qiáng)、線性度好、誤差小等特點(diǎn),能夠滿足各類晶閘管測溫的需求。

福州華光天銳自主研發(fā)的晶閘管熒光光纖溫度實(shí)時(shí)測量系統(tǒng),能夠?qū)崟r(shí)多點(diǎn)測量溫度分布,對晶閘管本體影響極小,不受外界的強(qiáng)電磁干擾,光纖傳感器體積小,整個(gè)測量系統(tǒng)具有穩(wěn)定性強(qiáng)、可靠性高、穩(wěn)定性強(qiáng)、線性度好、誤差小等特點(diǎn),能夠滿足各類晶閘管測溫的需求。

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